High-speed Fizeau interferometry for film topography measurement during spray film interaction

S.l.] / American Institute of Physics (2018) [Fachzeitschriftenartikel]

Review of scientific instruments
Band: 89
Ausgabe: 11
Seite(n): 113703

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Schumacher, Leif
Seel, Kevin
Reddemann, Manuel Armin
Kneer, Reinhold

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