Planar LIF For Quantification Of Liquid Removal And Deposition During Spray-Wall-Film-Interaction

Schumacher, Leif; Zuschlag, Moritz; Bieber, Malte; Reddemann, Manuel Armin; Kneer, Reinhold

New York, NY : Begell House (2020)
Fachzeitschriftenartikel

In: Atomization and sprays
Band: 30
Heft: 11
Seite(n)/Artikel-Nr.: 799-810

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